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MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》高低溫恒定濕熱試驗箱

作者:CEO 時間:2023-02-06

信息摘要:的規(guī)范條件執(zhí)行標準.中國國家標準分為強制性國標(GB)和*性國標(GB/T)中國國家標準,GB-89濕熱試驗箱技術條件中國國家標準,GB-89高、低溫試驗箱技術條件中國國家標準,GB/T-1989低溫試驗箱技術條件滿足標準電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱電工委

MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》高低溫恒定濕熱試驗箱

MIL-STD-202F《電子及電氣元件試驗方法》高低溫恒定濕熱試驗箱

  的規(guī)范條件執(zhí)行標準.中國國家標準分為強制性國標(GB)和*性國標(GB/T)中國國家標準,GB-89濕熱試驗箱技術條件中國國家標準,GB-89高、低溫試驗箱技術條件中國國家標準,GB/T-1989低溫試驗箱技術條件滿足標準電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱美國**標準,MIL-STD-810F-507.4濕度美國**標準,MIL-STD-810F-501.4高溫美國**標準,MIL-STD-810F-502.4低溫美國**標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗美國**標準,MIL-STD810D方法502.2美國**標準,MIL-STD810方法507.2程序3日本工業(yè)標準,JISC-2-3-1987試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)日本工業(yè)標準,JISC-2-2-1995試驗B:干熱日本工業(yè)標準,JISC-2-1-1995試驗A:低溫美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A101-B-2004恒定溫濕度試驗美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A103-C-2004高溫儲存試驗美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A119-2004低溫儲存試驗中國國家標準,GB/T2423.1-2001低溫中國國家標準,GB/T2423.2-2001高溫中國國家標準,GB/T2423.3-1993恒定濕熱試驗方法中國國家標準,GB2423.34-86溫濕度組合循環(huán)試驗中國國家標準,GB/T2423.4-93方法中國國家**環(huán)境試驗設備方法,GJB150.9-8濕熱試驗

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